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적용분야

측정·검사 분야의 세계적 Leading Company

㈜나노시스템은 3차원 초정밀 측정을 위한 최적의 솔루션을 제공합니다.

가장 빠르고, 가장 정밀하고, 가장 사용하기 편한 장비를 개발 공급하여 드린다는 목표 아래 최선을 다하고 있으며,
고객의 요청에 빠르게 대응하여 드릴 것을 약속드립니다.

Semiconductor/FPD/PCB

  • Dimple

  • Trace

  • Pad

  • Metal mask

  • MCP unit

  • Glass defect

  • OLED pattern

  • Bump on BGA

  • Laser marking on wafer

Engineering/Optical/Precision Parts

  • Copper roughness

  • Ball end mill

  • COG decap

  • MEMS

  • Nuclear pipe

  • MLCC

  • Micro lenses

  • Film scratch

  • Organic pattern

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