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적용 분야

㈜나노시스템은 3차원 초정밀 측정을 위한 최적의 솔루션을 제공합니다.
가장 빠르고, 가장 정밀하고, 가장 사용하기 편한 장비를 개발 공급하여 드린다는 목표 아래 최선을 다하고 있으며, 고객의 요청에 빠르게 대응하여 드릴 것을 약속드립니다.

Semiconductor/FPD/PCB

Dimple

-Dimple

Trace

-Trace

Pad

-Pad

Metal mask

-Metal mask

MCP unit

-MCP unit

Glass defect

-Glass defect

OLED pattern

-OLED pattern

Bump on BGA

-Bump on BGA

Laser marking on wafer

-Laser marking on wafer

Engineering/Optical/Precision Parts

Copper roughness

-Copper roughness

Ball end mill

-Ball end mill

COG decap

-COG decap

MEMS

-MEMS

Nuclear pipe

-Nuclear pipe

MLCC

-MLCC

Micro lenses

-Micro lenses

Film scratch

-Film scratch

Organic pattern

-Organic pattern

SALES
82-(0)42-717-2400

대전광역시 유성구 테크노2로 90 ㈜나노시스템

Tel

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